第23回電子顕微鏡大学

2013年01月25日 会合

主催：日本顕微鏡学会
協賛：日本生物物理学会　他

日時：2013年6月13日(木）、14日(金)
場所：東京大学本郷キャンパス 理学部1号館　小柴ホール
　　　（東京都文京区本郷7-3-1）

定員：150名（定員に至った時点で締め切ります）

受講料：
　日本顕微鏡学会会員及び賛助会員（各団体5名まで）：30,000円　
　協賛学会会員：45,000円、非会員：60,000円、学生：10,000円

申込方法：
　本ページ最下部URLよりお申込みください。
　なお、申込開始は2013年4月1日（月）の予定です。

申込締切：
　2013年5月20日(月)
　この日をすぎての申込み、あるいは開催当日の申込みは受け付けません。

概要：
　電子顕微鏡は先端材料の研究・開発における有益な物質情報解析の手法として、極
　めて高性能・高機能な装置・技術に成長しております。しかしながらその一方で、
　電子顕微鏡の性能と機能を十分に活用し、真に有用なデータを収集するには、ある
　程度の手法や装置に関する基礎知識と熟練した操作技術が要求されることも事実です。

　こうした状況を踏まえ日本顕微鏡学会は、主に材料の研究・開発に従事する研究者
　や技術者で、これから電子顕微鏡を利用しようとする人や、始めて間もない初級・
　中級者レベルの人を対象に、電子顕微鏡法の基礎的なセミナー「電子顕微鏡大学」
　を開講しております。電子顕微鏡による様々な物質・材料の評価法及び分析法を講
　義して、好評のうちに今回で第23回目を迎えます。アンケートによる受講者の意見
　の迅速な反映、好評の「Q＆A集」の送付など、受講者と講師陣が一体となった「平
　易で役立つセミナー」となるよう情熱を傾けております。物質・材料の研究・開発
　における次代を担う諸兄の受講をお誘いいたします。

プログラム（予定）：
　＜第1日目＞ 6月13日(木)　9：45～17：20
　１．電子顕微鏡のハードウエア －基本構造のやさしい解説－
　　　　及川哲夫（日本電子）
　２．電子回折法 －回折図形の原理と構造情報－
　　　　津田健治（東北大・多元研）
　３．明視野像法，暗視野像法 －材料組織と格子欠陥の詳細な観察法－
　　　　坂公恭 （名大・工）
　４．原子構造の解析
　　　１）高分解能電顕法の基礎 －格子像原理のわかりやすい解説－
　　　　　　田中信夫（名大・工）
　　　２）高分解能電顕法の実際 －格子像観察で守るべき技術的ポイント－
　　　　　　市野瀬英喜（理化学研究所）

　＜第2日目＞ 6月14日(金)　9：30～17：40
　５．走査型透過電子顕微鏡（STEM）による結像
　　　　阿部 英司（東京大学）
　６． エネルギー分散型Ｘ線分光法（ＥＤＳ） －元素分析の原理と実際－
　　　　堀田 善治（九州大学）
　７．電子エネルギー損失分光法（ＥＥＬＳ） －電子構造の情報を捉える－
　　　　倉田博基（京大・化研）
　８．試料作製法 -最適試料作製法と新手法-
　　　　谷山 明（住友金属）
　９．走査電子顕微鏡の基本と応用　－多様な機能をどう使うか－
　　　　佐藤 馨（JFEスチール）
　10．表面の原子・電子構造　－STM・AFM 原理と技術的ポイント－
　　　　富取正彦（北陸先端科技大）

問合せ先：
　◆申込に関するお問合せ
　社団法人 日本顕微鏡学会　電子顕微鏡大学ヘルプデスク
　FAX：03-5227-8632
　E-mail：jsm-denken＠bunken.co.jp
　（迷惑メール対策のため、メールアドレスの＠は全角文字になっています。）

　◆講習の内容等に関するお問合せ
　東京大学内 第23回電子顕微鏡大学実行委員会 事務局
　FAX：03-5841-4555
　E-mail：kogure＠eps.s.u-tokyo.ac.jp
　（迷惑メール対策のため、メールアドレスの＠は全角文字になっています。）



URL:http://www.microscopy.or.jp/denken/index.html

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